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A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。低檢測下限可達0.08µm ,在全球同類產...
ANALYSETTE 28 動態顆粒圖像分析儀,借助于500萬像素的工業級雙向遠心鏡頭以及強大的分析軟件,可快速對待測顆粒進行粒形分析,廣泛應用于質量控制、研發...
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